8月 05, 2025

Intlvac Thin Film 将参加 ISTFA 2025,即第51届 国际测试与失效分析研讨会,会议将于 11月16–20日 在加州帕萨迪纳举行。

我们将展示 Nanoquest 系列离子束刻蚀系统,该系列专为从 失效分析器件开发与封装 的多种高精度材料去除应用而设计。

我们的宽束离子束平台提供 卓越的刻蚀均匀性、过程控制与灵活性,是应对新一代微电子复杂挑战的理想工具。

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